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高分辨率EMCCD相機(jī)
高幀頻電子倍增CCD相機(jī)
寬波段深度制冷EMCCD相機(jī)
銦鎵砷短波探測(cè)器
線陣短波InGaAs探測(cè)器
320×256InGaAs探測(cè)器
640×512InGaAs探測(cè)器
光電對(duì)抗測(cè)試產(chǎn)品系列
紅外發(fā)射率測(cè)量產(chǎn)品
紅外輻射測(cè)量產(chǎn)品
IDQ單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器
ID230單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器
ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測(cè)器
ID Qube NIR Gated紅外單光子探測(cè)器
ID220單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器
超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器
ID120單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器
ID100單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器
ID101OEM可見(jiàn)光光子計(jì)數(shù)器
ID900時(shí)間控制器
ID300短脈沖激光源
高光譜相機(jī)
國(guó)產(chǎn)高光譜相機(jī)
LWIR長(zhǎng)波高光譜相機(jī)
MWIR中波高光譜相機(jī)
SWIR短波紅外高光譜相機(jī)
NIR近紅外高光譜相機(jī)
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SI深度制冷CCD相機(jī)
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SI-1000S深度制冷CCD相機(jī)
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科學(xué)級(jí)相機(jī)
進(jìn)口短波紅外相機(jī)
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激光器
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激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)
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光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀
相機(jī)/熱像儀/激光測(cè)試系統(tǒng)
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光導(dǎo)碲鎘汞HgCdTe PC(1um-26um)
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砷化銦InAs(1.0um-3.8um)
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光纖滑環(huán)
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雙通道光纖滑環(huán)
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全波段光電探測(cè)器(0.2-26um),短波紅外相機(jī)(0.9-1.7um),紅外 熱像儀,微光夜視儀,成像機(jī)芯(0.9-1.7um/3-5um/8-14um),EMCCD/SCMOS相機(jī), 光功率計(jì)/能量計(jì),光譜分析儀,光纖滑環(huán),激光器,激光測(cè)距機(jī)
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